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Volumn 80, Issue , 1996, Pages 147-150

Multiple scattering study of synchrotron radiation photoelectron diffraction from Si(001)2×2-In surface

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EID: 0000413465     PISSN: 03682048     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0368-2048(96)02943-X     Document Type: Article
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References (10)
  • 5
    • 85029973525 scopus 로고    scopus 로고
    • private communication
    • J. Northrup, private communication.
    • Northrup, J.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.