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Volumn 101, Issue 21, 1997, Pages 4265-4275

Charge carrier dynamics at TiO2 particles: Reactivity of free and trapped holes

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EID: 0000399540     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp9639915     Document Type: Article
Times cited : (455)

References (44)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.