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Volumn 26, Issue 14, 2001, Pages 1072-1074

Three-dimensional total internal reflection microscopy

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INVERSE-SCATTERING;

EID: 0000370717     PISSN: 01469592     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.26.001072     Document Type: Article
Times cited : (46)

References (14)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.