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Volumn 361, Issue 3, 1998, Pages 261-266

Direct sampling time-of-flight mass spectrometers for technological analysis

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EID: 0000367180     PISSN: 09370633     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s002160050876     Document Type: Article
Times cited : (21)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.