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Volumn 56, Issue 15, 1997, Pages 9279-9281

Generalized simulated annealing: Application to silicon clusters

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EID: 0000355510     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.56.9279     Document Type: Article
Times cited : (33)

References (17)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.