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Volumn 38, Issue 9, 1988, Pages 6342-6344

Carrier-sign reversal in Bi-doped bulk amorphous semiconductors Ge20Te80-xBix

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EID: 0000346225     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.38.6342     Document Type: Article
Times cited : (56)

References (23)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.