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Volumn 70, Issue 26, 1997, Pages 3552-3554

New ripple patterns observed in excimer-laser irradiated SiO2/polycrystalline silicon/SiO2 structures

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EID: 0000344047     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.119230     Document Type: Article
Times cited : (27)

References (6)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.