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Volumn 65, Issue 21, 1994, Pages 2687-2689

Possible lifetime-limiting defect in 6H SiC

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EID: 0000266774     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.112962     Document Type: Article
Times cited : (28)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.