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Volumn 112, Issue 13, 2000, Pages 5558-5565

Reaction field treatment of charge penetration

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EID: 0000262725     PISSN: 00219606     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.481133     Document Type: Article
Times cited : (254)

References (37)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.