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Volumn 70, Issue 24, 1997, Pages 3260-3262

Reverse current transient behavior in amorphous silicon Schottky diodes at low biases

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EID: 0000230741     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.119141     Document Type: Article
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References (5)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.