메뉴 건너뛰기




Volumn 80, Issue B, 1999, Pages 440-442

Precision X-ray spectroscopy at the NIST electron-beam ion trap: Resolution of major systematic error

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0000203160     PISSN: 02811847     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (14)

References (15)
  • 1
    • 33750043925 scopus 로고    scopus 로고
    • Chu, S. et al., Phys. Rev. Lett. 60, 101 (1998); Maas, F. E. et al., Phys. Lett. A187, 247 (1994).
    • (1998) Phys. Rev. Lett. , vol.60 , pp. 101
    • Chu, S.1
  • 2
    • 0001078995 scopus 로고
    • Chu, S. et al., Phys. Rev. Lett. 60, 101 (1998); Maas, F. E. et al., Phys. Lett. A187, 247 (1994).
    • (1994) Phys. Lett. , vol.A187 , pp. 247
    • Maas, F.E.1
  • 4
    • 4243669420 scopus 로고
    • Chu, S., Mills Jr., A. P. and Hall, J. L., Phys. Rev. Lett. 52, 1689 (1984); Fee, M. S. et al., Phys. Rev. Lett. 70, 1397 (1993).
    • (1993) Phys. Rev. Lett. , vol.70 , pp. 1397
    • Fee, M.S.1
  • 8
    • 0026998726 scopus 로고
    • Chantler, C. T., J. Appl. Cryst. 25, 674 (1992); Chantler, C. T., J. Appl. Cryst. 35, 694 (1992).
    • (1992) J. Appl. Cryst. , vol.25 , pp. 674
    • Chantler, C.T.1
  • 9
    • 0026990163 scopus 로고
    • Chantler, C. T., J. Appl. Cryst. 25, 674 (1992); Chantler, C. T., J. Appl. Cryst. 35, 694 (1992).
    • (1992) J. Appl. Cryst. , vol.35 , pp. 694
    • Chantler, C.T.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.