A time-resolved current method for the investigation of charging ability of insulators under electron beam irradiation

Journal of Applied Physics

Volumn 79, Issue 9, 1996, Pages 7123-7128

  Song, Z G ^a   Ong, C K ^a   Gong, H ^a  

^a NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE   (Singapore)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000192886     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.361427     Document Type: Article

References (32)

1. J. P. Vigouroux, L. P. Duraud, A. Le Moel, C. Le Gressus, and D. L. Griscom, J. Appl. Phys. 57, 5139 (1985).
2. B. Gross, J. Dow, and S. V. Nablo, J. Appl. Phys. 44, 2495 (1973).
3. H. Gong, C. Le Gressus, K. H. Oh, X. Z. Ding, C. K. Ong, and B. T. G. Tan, J. Appl. Phys. 73, 1944 (1993).
4. K. H. Oh, C. K. Ong, B. T. G. Tan, C. Le Gressus, and G. Blaise, J. Appl. Phys. 74, 1960 (1993).
5. H. Gong, T. J. Lu, and C. K. Ong, J. Appl. Phys. 76, 1352 (1994).
6. C. Le. Gressus and G. Blaise, IEEE Trans. Electron. Insul. 27, 472 (1992).
7. B. Gross, G. M. Sessler, and J. E. West, Appl. Phys. Lett. 22, 315 (1973).
8. P. K. Watson, F. W. Schmidlin, and R. V. Ladonna, IEEE Trans. Electron. Insul. 27, 680 (1992).
9. H. Gong, K. M. Chooi, and C. K. Ong, J. Appl. Phys. 76, 2414 (1994).
10. B. Gross, G. M. Sessler, and J. E. West, J. Appl. Phys. 45, 2841 (1974).
11. G. M. Sessler, J. E. West, and H. von Seggern, J. Appl. Phys. 53, 4320 (1982).
12. B. Gross, G. M. Sessler, and J. E. West, J. Appl. Phys. 48, 4303 (1977).
13. C. Le Gressus, F. Valin, M. Gautier, J. P. Duraud, J. Cazaux, and H. Okuzumi, Scanning 12, 203 (1990).
14. G. Blaise, IEEE Trans. Electron. Insul. 28, 437 (1993).
15. R. E. Collins, Appl. Phys. Lett. 26, 675 (1975).
16. R. E. Collins, J. Appl. Phys. 47, 4804 (1976).
17. A. S. de Reggi, C. M. Guttman, F. I. Mopsik, G. T. Davis, and M. G. Broadhurst, Phys. Rev. Lett. 40, 413 (1978).
18. P. Laurencean, G. Dreyfus, and J. Lewiner, Phys. Rev. Lett. 38, 46 (1977).
19. M. P. Cals, J. P. Marque, and C. Alquie, IEEE Trans. Electron. Insul. 27, 763 (1992).
20. G. M. Sessler, J. E. West, and R. Gerhard, Phys. Rev. Lett. 48, 563 (1982).
21. M. Zahn, M. Hikita, K. A. Wright, C. M. Cooke, and J. Brennan, IEEE Trans. Electron. Insul. 22, 181 (1988).
22. M. Hikita, M. Zahn, K. A. Wright, C. M. Cooke, and J. Brennan, IEEE Trans. Electron. Insul. 23, 861 (1988).
23. T. S. Sudarshan and J. Wang, IEEE Trans. Electron. Insul. 27, 1127 (1992).
24. X. Zhang, C. K. Ong, and A. M. Stoneham, J. Phys. Conden. Matter 6, 5647 (1994).
25. L. Reimer, U. Golla, R. Bongeler, M. Kassens, B. Schindler, and R. Senkel, Optik 92, 14 (1992).
26. J. Cazaux and C. Le Gressus, Scanning Microsc. 5, 17 (1991).
27. C. Le Gressus and G. Blaise, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 59, 73 (1992).
28. J. F. Fowler, Proc. R. Soc. London Ser. A 236, 464 (1956).
29. W. H. Sullivan and R. L. Ewing, IEEE Trans. Nucl. Sci. NS-18, 310(1971).
30. A. Wason and J. Dow, J. Appl. Phys. 39, 5935 (1968).
31. J. I. Goldstein, D. E. Newbury, P. Echlin, D. C. Joy, C. Fiori, and E. Lifshin, Scanning Electron Microscope and X-Ray Microanalysis (Plenum, New York, 1981), p. 45.
32. J. Cazaux, K. H. Kim, O. Jbara, and G. Salace, J. Appl. Phys. 70, 960 (1991).