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Volumn 84, Issue 6, 2000, Pages 1260-1263

Multiscale simulation of loading and electrical resistance in silicon nanoindentation

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EID: 0000185933     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.84.1260     Document Type: Article
Times cited : (117)

References (19)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.