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Volumn 81, Issue 3, 1997, Pages 1126-1130

Transmission electron microscopy studies of crystal-to-amorphous transition in ion implanted silicon

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EID: 0000183401     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.363857     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.