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Volumn 57, Issue 19, 1998, Pages 12360-12363

Noise in polycrystalline silicon thin films

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EID: 0000171798     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.57.12360     Document Type: Article
Times cited : (13)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.