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Volumn 30, Issue 8, 1984, Pages 4481-4492

Comprehensive analysis of Si-doped AlxGa1-xAs (x=0 to 1): Theory and experiments

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EID: 0000135383     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.30.4481     Document Type: Article
Times cited : (348)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.