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Volumn 57, Issue 16, 1998, Pages 10030-10034

Electrical activity of interfacial paramagnetic defects in thermal (100)

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EID: 0000119442     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.57.10030     Document Type: Article
Times cited : (121)

References (24)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.