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Volumn 70, Issue 1 II, 1999, Pages 1072-1075

Microwave reflectometry diagnostic for density profile and fluctuation measurements on ASDEX Upgrade

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EID: 0000088284     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1149439     Document Type: Article
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References (5)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.