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Volumn 53, Issue 20, 1996, Pages 13682-13687

Background charge noise in metallic single-electron tunneling devices

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EID: 0000085745     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.53.13682     Document Type: Article
Times cited : (217)

References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.